九州工業大学
情報工学部 情報・通信工学科 教授
温 暁青 先生
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
■著者 ：Patrick Girard、Nicola Nicolici、Xiaoqing Wen（温 暁青）（編集）
■出版社 ： Springer-Verlag
VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES: Design for Testability (The Morgan Kaufmann Series in Systems on Silicon)
■著者 ：Laung-Terng Wang、Cheng-Wen Wu、Xiaoqing Wen（温 暁青）（共著）
■出版社 ： Morgan Kaufmann